ScholarGate
Trợ lý
Process / pipelineQuality prediction

Mô hình dự đoán lỗi

Các mô hình dự đoán lỗi dự báo khả năng xảy ra lỗi phần mềm trong các module mã nguồn bằng cách sử dụng các phương pháp thống kê hoặc học máy. Được tiên phong bởi Ostrand, Weyuker, và Bell (2005), các mô hình này tương quan các chỉ số mã nguồn (độ phức tạp, tần suất thay đổi, sự kết nối) với dữ liệu lỗi lịch sử để xác định các thành phần có rủi ro cao. Các tổ chức sử dụng các dự đoán này để phân bổ tài nguyên kiểm thử, hướng dẫn đánh giá mã nguồn và ưu tiên tái cấu trúc.

Mở trong MethodMindSắp ra mắtVideoSắp ra mắtDownload slides

Đọc toàn bộ phương pháp

Chỉ dành cho thành viên

Đăng nhập bằng tài khoản miễn phí để đọc phần này.

Đăng nhập

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Nguồn tài liệu

  1. Ostrand, T. J., Weyuker, E. J., & Bell, R. M. (2005). Predicting the location and number of faults in large software systems. IEEE Transactions on Software Engineering, 31(4), 340–355. DOI: 10.1109/tse.2005.49
  2. Nagappan, N., Ball, T., & Zeller, A. (2006). Mining metrics to predict component failures. In Proceedings of the 28th International Conference on Software Engineering (pp. 452–461). DOI: 10.1145/1134285.1134349
  3. Menzies, T., Greenwald, J., & Russ, P. (2007). Problems with precision: A response to comments on 'Data mining static code attributes to learn defect predictors'. IEEE Transactions on Software Engineering, 33(9), 637–640. DOI: 10.1109/tse.2007.70721

Cách trích dẫn trang này

ScholarGate. (2026, June 3). Software Defect Prediction and Risk Classification. ScholarGate. https://scholargate.app/vi/software-engineering/defect-prediction-model

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Được tham chiếu bởi

ScholarGateDefect Prediction Model (Software Defect Prediction and Risk Classification). Truy cập ngày 2026-06-15 từ https://scholargate.app/vi/software-engineering/defect-prediction-model · Bộ dữ liệu: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026