Latent structureItem Bias Detection

SIBTEST

SIBTEST (Kiểm định sai lệch mục đồng thời) là một phương pháp phi tham số để phát hiện sai lệch mục (DIF) và sai lệch kiểm định (DTF) được phát triển bởi Shealy và Stout (1993). Không giống như các phương tháp tham số, SIBTEST không giả định một mô hình phản ứng mục cụ thể và kiểm định trực tiếp liệu các nhóm có khác nhau về xác suất trả lời đúng các mục ở cùng một mức độ năng lực tổng thể hay không.

Mở trong MethodMindSắp ra mắtVideoSắp ra mắtDownload slides

Đọc toàn bộ phương pháp

Chỉ dành cho thành viên

Đăng nhập bằng tài khoản miễn phí để đọc phần này.

Đăng nhập

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Nguồn tài liệu

  1. Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572
  2. Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x
  3. Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821

Cách trích dẫn trang này

ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/vi/psychometrics/sibtest

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side
ScholarGateSIBTEST (SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test). Truy cập ngày 2026-06-15 từ https://scholargate.app/vi/psychometrics/sibtest · Bộ dữ liệu: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026