Tạo Mẫu Kiểm Thử Tự Động
Tạo Mẫu Kiểm Thử Tự Động (ATPG) là quá trình tạo ra các vector kiểm thử một cách tự động để phát hiện các lỗi sản xuất trong mạch số. Được tiên phong bởi Roth vào năm 1966, ATPG có hệ thống tìm ra các đầu vào làm cho các lỗi 'kẹt tại' (stuck-at faults) có thể quan sát được tại các đầu ra, cho phép phát hiện lỗi toàn diện. ATPG rất quan trọng đối với sản xuất bán dẫn: đạt được độ bao phủ lỗi cao đảm bảo chỉ các chip tốt được xuất xưởng và xác định các vấn đề trong quy trình sản xuất.
Đọc toàn bộ phương pháp
Đăng nhập bằng tài khoản miễn phí để đọc phần này.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Nguồn tài liệu
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Cách trích dẫn trang này
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/vi/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Tổng hợp logicKỹ thuật điện↔ compare
- Monte Carlo Process VariationKỹ thuật điện↔ compare
- Phân tích thời gian tĩnhKỹ thuật điện↔ compare
Được tham chiếu bởi
Phát hiện lỗi trên trang này? Báo cáo hoặc đề xuất chỉnh sửa →