ScholarGate
Асистент
Process / pipelineQuality prediction

Модель прогнозування дефектів

Моделі прогнозування дефектів передбачають ймовірність програмних збоїв у програмних модулях, використовуючи статистичні підходи або методи машинного навчання. Започатковані Ostrand, Weyuker та Bell (2005), ці моделі корелюють метрики коду (складність, зміни, зв'язність) з історичними даними про дефекти для виявлення компонентів із високим ризиком. Організації використовують прогнози для розподілу ресурсів тестування, керівництва переглядом коду та пріоритезації рефакторингу.

Відкрити у MethodMindНезабаромВідеоНезабаромDownload slides

Читати метод повністю

Лише для учасників

Увійдіть із безкоштовним обліковим записом, щоб прочитати цей розділ.

Увійти

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Джерела

  1. Ostrand, T. J., Weyuker, E. J., & Bell, R. M. (2005). Predicting the location and number of faults in large software systems. IEEE Transactions on Software Engineering, 31(4), 340–355. DOI: 10.1109/tse.2005.49
  2. Nagappan, N., Ball, T., & Zeller, A. (2006). Mining metrics to predict component failures. In Proceedings of the 28th International Conference on Software Engineering (pp. 452–461). DOI: 10.1145/1134285.1134349
  3. Menzies, T., Greenwald, J., & Russ, P. (2007). Problems with precision: A response to comments on 'Data mining static code attributes to learn defect predictors'. IEEE Transactions on Software Engineering, 33(9), 637–640. DOI: 10.1109/tse.2007.70721

Як цитувати цю сторінку

ScholarGate. (2026, June 3). Software Defect Prediction and Risk Classification. ScholarGate. https://scholargate.app/uk/software-engineering/defect-prediction-model

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Згадується в

ScholarGateDefect Prediction Model (Software Defect Prediction and Risk Classification). Отримано 2026-06-15 з https://scholargate.app/uk/software-engineering/defect-prediction-model · Набір даних: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026