Patent Analysis
Patent analysis, or patanalytics, mines the documents and metadata in patent databases to generate technological intelligence. Because patents are structured, dated, classified, and citation-linked records of inventive activity, analysing patent counts, citations, classification codes, applicants, and text reveals who is innovating where, in which technologies, how fields connect, and how the technological landscape is shifting—evidence that feeds competitive intelligence, R&D strategy, and foresight.
Читати метод повністю
Увійдіть із безкоштовним обліковим записом, щоб прочитати цей розділ.
Карта методів
Околиця споріднених методів — виберіть вузол, щоб дослідити.
Джерела
- Narin, F. (1994). Patent bibliometrics. Scientometrics, 30(1), 147-155. DOI: 10.1007/BF02017219 ↗
- Abbas, A., Zhang, L., & Khan, S. U. (2014). A literature review on the state-of-the-art in patent analysis. World Patent Information, 37, 3-13. DOI: 10.1016/j.wpi.2013.12.006 ↗
Як цитувати цю сторінку
ScholarGate. (2026, June 22). Patent Analysis (Patanalytics). ScholarGate. https://scholargate.app/uk/science-technology-studies/patent-analysis
Який метод?
Поставте цей метод поруч із його найближчими спорідненими й читайте їх пліч-о-пліч — бібліотека викладає книги на стіл; вибір за вами.
- Constructive Technology AssessmentScience Technology Studies↔ порівняти
- Horizon ScanningScience Technology Studies↔ порівняти
- Technology ForesightScience Technology Studies↔ порівняти
- Technology RoadmappingScience Technology Studies↔ порівняти
Згадується в
Подібні методи
Помітили помилку на цій сторінці? Повідомте про неї або запропонуйте виправлення →