Scholar
Gate
Асистент
Усі галузі
▾
UK ▾
Про проєкт
Reference
Питання і дизайн
Вибірка і вимірювання
Аналіз
Причинність і докази
Звітування й етика
Головна
/
Автор
Kapetanios, Shin, and Snell
Методи, пов'язані з цим автором.
1 метод
Економетрика
1
Nonlinear ADF Unit Root Test
2003