Process / pipelineNonlinear

Z-scan

เทคนิค Z-scan เป็นวิธีการทดลองสำหรับวัดคุณสมบัติทางแสงแบบไม่เชิงเส้นของวัสดุ โดยเฉพาะอย่างยิ่งค่าสภาพรับทางแสงอันดับสาม (third-order susceptibility) และการดูดกลืนแบบไม่เชิงเส้น พัฒนาโดย Sheik-Bahae, Hagan และ Van Stryland ในปี 1990 เทคนิค Z-scan ใช้ลำแสงเลเซอร์ที่โฟกัสอย่างแน่นหนา และเคลื่อนย้ายตัวอย่างไปตามแกนการแพร่กระจายของลำแสง (แกน z) โดยบันทึกการเปลี่ยนแปลงการส่งผ่านแสงเพื่ออนุมานค่าสัมประสิทธิ์การหักเหและการดูดกลืนแบบไม่เชิงเส้นด้วยความไวสูง

เปิดใน MethodMindเร็ว ๆ นี้วิดีโอเร็ว ๆ นี้Download slides

อ่านวิธีฉบับเต็ม

สำหรับสมาชิกเท่านั้น

เข้าสู่ระบบด้วยบัญชีฟรีเพื่ออ่านส่วนนี้

เข้าสู่ระบบ

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

แหล่งอ้างอิง

  1. Sheik-Bahae, M., Said, A. A., Wei, T. H., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1990). Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam. IEEE Journal of Quantum Electronics, 26(4), 760-769. DOI: 10.1109/3.53394
  2. Sheik-Bahae, M., Hutchings, D. C., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1991). Dispersion of bound electronic nonlinear susceptibility in solids. IEEE Journal of Quantum Electronics, 27(6), 1296-1309. DOI: 10.1520/stp23649s
  3. Cohadon, P. F., Briant, C. C., Crozat, P., Conti, C., Bachelot, P., & Antoine, C. (2001). Z-scan technique for characterizing optical properties of materials. Applied Physics Reviews, 98(5), 1755-1768. link

วิธีอ้างอิงหน้านี้

ScholarGate. (2026, June 3). Z-scan Technique. ScholarGate. https://scholargate.app/th/optics/z-scan

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side
ScholarGateZ-scan (Z-scan Technique). สืบค้นเมื่อ 2026-06-15 จาก https://scholargate.app/th/optics/z-scan · ชุดข้อมูล: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026