การวิเคราะห์ลายสอดแทรก (Interferogram Fringe Analysis)
การวิเคราะห์ลายสอดแทรกเป็นระเบียบวิธีเชิงคำนวณสำหรับการสกัดข้อมูลเชิงปริมาณจากรูปแบบลายสอดแทรกที่บันทึกได้ในระบบแสง ซึ่งมีรากฐานมาจากการทดลองสลิตคู่ของ Thomas Young ในปี 1801 และได้รับการพัฒนาอย่างเป็นทางการในสาขามาตรวิทยาช่วงศตวรรษที่ 20 แนวทางนี้ตีความรูปแบบเชิงพื้นที่ของการแทรกสอดแบบเสริมและแบบหักล้างเพื่อวัดความสูงของพื้นผิว (surface topography), ความคลาดเคลื่อนของแสง (optical aberrations), การกระจายตัวของดัชนีหักเห (refractive-index distributions) และคุณสมบัติทางแสงอื่นๆ ด้วยความแม่นยำสูง
อ่านวิธีฉบับเต็ม
เข้าสู่ระบบด้วยบัญชีฟรีเพื่ออ่านส่วนนี้
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
แหล่งอ้างอิง
- Malacara, D. (Ed.). (2007). Optical Shop Testing (3rd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Huntley, J. M. (1989). Automatic fringe pattern analysis: a review. Optics & Lasers in Engineering, 11(2-3), 243-266. link ↗
- Wyant, J. C. (1996). White light interferometry. Proceedings of the International Society for Optical Engineering, 2873, 98-107. link ↗
วิธีอ้างอิงหน้านี้
ScholarGate. (2026, June 3). Interferogram Fringe Analysis. ScholarGate. https://scholargate.app/th/optics/interferogram-fringe-analysis
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- ABCD Matrixทัศนศาสตร์↔ compare
- ทัศนศาสตร์ฟูเรียร์ทัศนศาสตร์↔ compare
- แคลคูลัสแบบมุลเลอร์-สโตคส์ทัศนศาสตร์↔ compare