SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) är en icke-parametrisk metod för att detektera differential item functioning (DIF) och differential test functioning (DTF) utvecklad av Shealy och Stout (1993). Till skillnad från parametriska metoder antar SIBTEST ingen specifik modell för svar på testfrågor och testar direkt om grupper skiljer sig åt i sin sannolikhet att svara korrekt på frågor vid lika nivåer av övergripande förmåga.
Läs hela metoden
Logga in med ett kostnadsfritt konto för att läsa avsnittet.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Källor
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. DOI: 10.1007/BF02294572 ↗
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. DOI: 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x ↗
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. DOI: 10.1007/BF02294821 ↗
Så citerar du den här sidan
ScholarGate. (2026, June 3). SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test. ScholarGate. https://scholargate.app/sv/psychometrics/sibtest
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Kognitiv diagnostisk datoriserad adaptiv testningPsykometri↔ compare
- DINA-modellenPsykometri↔ compare
- DINO-modellenPsykometri↔ compare
- Necessary Condition AnalysisPsykometri↔ compare
- Rule Space MethodologyPsykometri↔ compare
Hittade du ett fel på sidan? Rapportera eller föreslå en rättelse →