Röntgenfotoelektronspektroskopi
Röntgenfotoelektronspektroskopi (XPS), även känt som elektron spektroskopi för kemisk analys (ESCA), är en yt-känslig analytisk teknik som mäter kinetiska energier hos fotoelektroner som frigörs från ett material av hög-energi röntgenstrålning. Utvecklad av Kai Siegbahn 1967, bestämmer XPS elementär sammansättning, kemiska oxidationstillstånd och kemiska bindningar inom cirka 10 nanometer från en yta. Det är oumbärligt inom materialvetenskap för ytkarakterisering, korrosionsstudier, oxidanalys och gränsytkemi.
Läs hela metoden
Logga in med ett kostnadsfritt konto för att läsa avsnittet.
Metodkarta
Närområdet av besläktade metoder — välj en nod för att utforska.
Källor
- Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. link ↗
- Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. link ↗
Så citerar du den här sidan
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). ScholarGate. https://scholargate.app/sv/materials-science/x-ray-photoelectron-spectroscopy
Vilken metod?
Placera den här metoden bredvid sina närmaste släktingar och läs dem sida vid sida — biblioteket lägger fram böckerna på bordet; valet är ditt.
- Energidispersiv röntgenspektroskopiMaterialvetenskap↔ jämför
- Raman-dekonvolutionMaterialvetenskap↔ jämför
- Selektiv områdesdiffraktionMaterialvetenskap↔ jämför
Refereras av
Similar methods
Hittade du ett fel på sidan? Rapportera eller föreslå en rättelse →