EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) är en synkrotronbaserad röntgenabsorptionsspektroskopiteknik som mäter den lokala geometriska och elektroniska strukturen runt en specifik atom i vilket material som helst, kristallint eller amorft. EXAFS, som upptäcktes av Sayers, Stern och Lytle 1971, avslöjar interatomära avstånd, koordinationstal och oordning i den atomära omgivningen genom att analysera oscillationer i röntgenabsorptionsspektrumet ovanför en absorptionskant.
Läs hela metoden
Logga in med ett kostnadsfritt konto för att läsa avsnittet.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Källor
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Så citerar du den här sidan
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/sv/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Refereras av
Hittade du ett fel på sidan? Rapportera eller föreslå en rättelse →