Scholar
Gate
Asistent
Sve oblasti
▾
SR ▾
O nama
Reference
Pitanje i nacrt
Uzorkovanje i merenje
Analiza
Uzročnost i dokazi
Izveštavanje i etika
Početna
/
Autor
Elhorst, J. P.; Lee, L. F. & Yu, J.
Metode koje se pripisuju ovom autoru.
1 metoda
Prostorna analiza
1
Global Spatial Panel Model
2003