EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) je synchrotrónová röntgenová spektroskopická technika, ktorá meria lokálnu geometrickú a elektronovú štruktúru okolo špecifického atómu v akomkoľvek materiáli, kryštalickom alebo amorfnom. EXAFS, objavený Sayersom, Sternom a Lytleom v roku 1971, odhaľuje medzioatómové vzdialenosti, koordinačné čísla a neporiadok v atómovom prostredí analýzou oscilácií v spektre absorpcie röntgenového žiarenia nad absorpčnou hranou.
Prečítať celú metódu
Ak si chcete prečítať túto sekciu, prihláste sa s bezplatným účtom.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Zdroje
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Ako citovať túto stránku
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/sk/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Odkazujú sem
Našli ste na tejto stránke chybu? Nahláste ju alebo navrhnite opravu →