Im-Pesaran-Shin Test
The Im-Pesaran-Shin (IPS) test, introduced by Im, Pesaran, and Shin in 2003, is a panel unit-root test designed for heterogeneous panels where the autoregressive coefficient is allowed to differ across cross-sectional units. It averages individual Augmented Dickey-Fuller (ADF) t-statistics and constructs a standardized statistic with a standard normal limiting distribution, making it one of the most widely applied first-generation panel unit-root tests in applied econometrics.
Zdrojový záznam
Citácie skopírované doslovne zo zdrojového záznamu metódy. Nevyplýva z nich žiadne overenie na úrovni tvrdenia.
Spracované tvrdenia
Tvrdenia uložené v registri dôkazov, každé s vlastným hodnotením.
Tento pohľad nevymýšľa hodnotenie tvrdenia, ak register žiadne nemá.
Súvisiace metódy
Vygenerované z grafu metód a zobrazené ako vzťahy navrhnuté strojom – nevyplýva z nich žiadne tvrdenie o dôkaze.