Scholar
Gate
Asistent
Všetky odbory
▾
SK ▾
O knižnici
Reference
Otázka a dizajn
Výber vzorky a meranie
Analýza
Kauzalita a dôkazy
Reportovanie a etika
Domov
/
Autor
Elhorst; Lee & Yu
Metódy pripisované tomuto autorovi.
1 metóda
Priestorová analýza
1
Spatial Panel Model
2014