Process / pipelineStatistical process control

Контрольные карты для атрибутивных данных (p, np, c, u)

Контрольные карты для атрибутивных данных расширяют каркас Шеухарта на данные подсчета и пропорций — характеристики качества, которые классифицируются, а не измеряются. Карты p и np отслеживают долю или количество дефектных изделий, используя биномиальное распределение, тогда как карты c и u отслеживают количество дефектов на единицу, используя распределение Пуассона. Это стандартные инструменты статистического управления процессами (SPC), когда инспекция дает результат «годен/не годен» или подсчет дефектов, а не непрерывные измерения.

Применить в StatMindСкороВидеоСкороDownload slides

Читать метод полностью

Только для участников

Войдите с бесплатным аккаунтом, чтобы прочитать этот раздел.

Войти

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Источники

  1. Shewhart, W. A. (1931). Economic Control of Quality of Manufactured Product. D. Van Nostrand Company. ISBN: 978-0-87389-076-2
  2. Montgomery, D. C. (2009). Introduction to Statistical Quality Control (6th ed.). John Wiley & Sons. ISBN: 978-0-470-16992-6

Как цитировать эту страницу

ScholarGate. (2026, June 2). Attributes Control Charts (p, np, c, u). ScholarGate. https://scholargate.app/ru/statistics/attributes-control-chart

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Упоминается в

ScholarGateAttributes Control Chart (Attributes Control Charts (p, np, c, u)). Получено 2026-06-15 из https://scholargate.app/ru/statistics/attributes-control-chart · Набор данных: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026