Scholar
Gate
Ассистент
Все области
▾
RU ▾
О проекте
Reference
Вопрос и дизайн исследования
Выборка и измерение
Анализ
Причинность и доказательства
Представление результатов и этика
Главная
/
Автор
Kapetanios, Shin, and Snell
Методы, относящиеся к этому автору.
1 метод
Эконометрика
1
Nonlinear ADF Unit Root Test
2003