Im-Pesaran-Shin Test
The Im-Pesaran-Shin (IPS) test, introduced by Im, Pesaran, and Shin in 2003, is a panel unit-root test designed for heterogeneous panels where the autoregressive coefficient is allowed to differ across cross-sectional units. It averages individual Augmented Dickey-Fuller (ADF) t-statistics and constructs a standardized statistic with a standard normal limiting distribution, making it one of the most widely applied first-generation panel unit-root tests in applied econometrics.
Înregistrare sursă
Citările sunt copiate integral din înregistrarea sursă a metodei. Nu se inferă nicio verificare la nivel de afirmație din acestea.
Afirmații curate
Afirmațiile sunt stocate în registrul dovezilor, fiecare cu propria evaluare.
Această vizualizare nu inventează o evaluare a afirmației dacă registrul nu conține una.
Metode conexe
Generate din graful metodelor și afișate ca relații sugerate automat — nu se inferă nicio afirmație de dovadă.