Automatyczne generowanie wzorców testowych
Automatyczne generowanie wzorców testowych (ATPG) to zautomatyzowane tworzenie wektorów testowych, które wykrywają defekty produkcyjne w układach cyfrowych. Zapoczątkowane przez Rotha w 1966 roku, ATPG systematycznie znajduje wejścia, które uwidaczniają błędy typu 'stuck-at' na wyjściach, umożliwiając kompleksowe wykrywanie błędów. ATPG jest kluczowe dla produkcji półprzewodników: zapewnienie wysokiego pokrycia błędów gwarantuje, że wysyłane są tylko dobre układy scalone i identyfikuje problemy z procesem produkcyjnym.
Przeczytaj pełny opis metody
Zaloguj się na bezpłatne konto, aby przeczytać tę sekcję.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Źródła
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Jak cytować tę stronę
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/pl/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Synteza logicznaElektrotechnika↔ compare
- Procesowa zmienność metodą Monte CarloElektrotechnika↔ compare
- Statyczna Analiza CzasowaElektrotechnika↔ compare
Cytowana przez
Widzisz błąd na tej stronie? Zgłoś go lub zaproponuj poprawkę →