EXAFS
Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) er en synkrotronbasert røntgen-spektroskopiteknikk som måler den lokale geometriske og elektroniske strukturen rundt et spesifikt atom i ethvert materiale, krystallinsk eller amorft. EXAFS ble oppdaget av Sayers, Stern og Lytle i 1971, og avslører interatomære avstander, koordinasjonstall og uorden i atommiljøet ved å analysere oscillasjoner i røntgenabsorpsjonsspekteret over en absorpsjonskant.
Les hele metoden
Logg inn med en gratis konto for å lese denne delen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Kilder
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Slik siterer du denne siden
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/no/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Referert av
Funnet en feil på denne siden? Rapporter eller foreslå en rettelse →