Selektiv områdediffraksjon
Selektiv områdediffraksjon (SAED) er en krystallografisk teknikk innen transmisjonselektronmikroskopi som oppnår elektrondiffraksjonsmønstre fra krystallinske regioner på mikrometer- eller submikrometerskala. Utviklet fra grunnleggende prinsipper for elektronbølgers oppførsel og integrert i TEM-instrumenter midt på 1900-tallet, muliggjør SAED direkte observasjon av resiprok rom, krystallsymmetri og defektstrukturer med en romlig oppløsning som er uoppnåelig med røntgendiffraksjon. Teknikken er essensiell for studier av lokal krystallstruktur, faseidentifikasjon og karakterisering av nanomaterialer.
Les hele metoden
Logg inn med en gratis konto for å lese denne delen.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Kilder
- Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (2nd ed.). Springer. DOI: 10.1007/978-0-387-76501-3 ↗
- Cullity, B. D., & Stock, S. R. (2014). Elements of X-ray Diffraction (3rd ed.). Pearson Education. link ↗
- Hirsch, P. B., Howie, A., Nicholson, R. B., Pashley, D. W., & Whelan, M. J. (1977). Electron Microscopy of Thin Crystals (2nd ed.). Butterworths. link ↗
Slik siterer du denne siden
ScholarGate. (2026, June 3). Selected Area Electron Diffraction (SAED). ScholarGate. https://scholargate.app/no/materials-science/selected-area-electron-diffraction
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- AtomkraftmikroskopiMaterialvitenskap↔ compare
- Energidispersiv røntgenspektroskopiMaterialvitenskap↔ compare
- XRD Rietveld-forfiningMaterialvitenskap↔ compare
Referert av
Funnet en feil på denne siden? Rapporter eller foreslå en rettelse →