Scholar
Gate
Assistent
Alle vakgebieden
▾
NL ▾
Over ons
Reference
Vraag & onderzoeksopzet
Steekproeftrekking & meting
Analyse
Causaliteit & bewijs
Rapportage & ethiek
Startpagina
/
Auteur
Becker, Enders, and Lee; Enders and Lee
Methoden die aan deze auteur worden toegeschreven.
1 methode
Econometrie
1
Fourier ADF unit root test
2006