ScholarGate
Pembantu
Process / pipelinedistribution-free-methods

Ujian Statistik Tak Parametrik

Ujian tak parametrik (bebas taburan) ialah kaedah statistik untuk pengujian hipotesis yang tidak menganggap data mengikut taburan kebarangkalian tertentu (cth., normal), menjadikannya teguh terhadap penyelewengan daripada kenormalan, pencilan, dan data ordinal. Ujian Mann-Whitney U (1947) dan ujian Kruskal-Wallis (1952) meluaskan pengujian hipotesis melangkaui kekangan andaian parametrik. Penting dalam biologi, perubatan, psikologi, dan mana-mana bidang di mana data adalah tidak normal, sangat condong, atau diukur pada skala ordinal (peringkat, penilaian), ujian tak parametrik memberikan inferens yang sah apabila andaian parametrik gagal.

Terapkan dengan StatMindTidak lama lagiVideoTidak lama lagiDownload slides

Baca kaedah sepenuhnya

Ahli sahaja

Log masuk dengan akaun percuma untuk membaca bahagian ini.

Log masuk

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Sumber

  1. Mann, H. B., & Whitney, D. R. (1947). On a test of whether one of two random variables is stochastically larger than the other. Annals of Mathematical Statistics, 18(1), 50–60. DOI: 10.1214/aoms/1177730491
  2. Kruskal, W. H., & Wallis, W. A. (1952). Use of ranks in one-criterion variance analysis. Journal of the American Statistical Association, 47(260), 583–621. DOI: 10.1080/01621459.1952.10483441
  3. Conover, W. J. (1999). Practical Nonparametric Statistics (3rd ed.). John Wiley & Sons. link

Cara memetik halaman ini

ScholarGate. (2026, June 4). Distribution-Free Hypothesis Testing. ScholarGate. https://scholargate.app/ms/research-statistics/nonparametric-tests

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Dirujuk oleh

ScholarGateNonparametric Statistical Tests (Distribution-Free Hypothesis Testing). Dicapai 2026-06-15 daripada https://scholargate.app/ms/research-statistics/nonparametric-tests · Set data: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026