EXAFS
Paplašinātā rentgena starojuma absorbcijas smalkā struktūra (EXAFS) ir sinhrotronu balstīta rentgena spektroskopijas tehnika, kas mēra lokālo ģeometrisko un elektronisko struktūru ap noteiktu atomu jebkurā materiālā, kristāliskā vai amorfā. Sayers, Stern un Lytle 1971. gadā atklātā EXAFS tehnika, analizējot svārstības rentgena absorbcijas spektrā virs absorbcijas robežas, atklāj starpatomu attālumus, koordinācijas skaitļus un traucējumus atomu vidē.
Lasīt pilno metodes aprakstu
Piesakieties ar bezmaksas kontu, lai lasītu šo sadaļu.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Avoti
- Sayers, D. E., Stern, E. A., & Lytle, F. W. (1971). New technique for investigating noncrystalline structures: Fourier analysis of the extended X-ray absorption fine structure. Physical Review Letters, 27(18), 1204-1207. DOI: 10.1103/PhysRevLett.27.1204 ↗
- Stern, E. A., Sayers, D. E., & Lytle, F. W. (1975). Extended x-ray-absorption-fine-structure technique. Physical Review B, 11(12), 4836-4846. DOI: 10.1103/PhysRevB.11.4836 ↗
Kā citēt šo lapu
ScholarGate. (2026, June 3). Extended X-ray Absorption Fine Structure. ScholarGate. https://scholargate.app/lv/spectroscopy/exafs
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Uz to atsaucas
Pamanījāt kļūdu šajā lapā? Ziņojiet vai ierosiniet labojumu →