Interferogrammas svītru analīze
Interferogrammas svītru analīze ir aprēķinu metodoloģija kvantitatīvas informācijas iegūšanai no interferenču svītru (joslu) rakstiem, kas reģistrēti optiskās sistēmās. Balstoties uz Tomasa Janga (Thomas Young) 1801. gada dubultsleju eksperimentu un formalizēta 20. gadsimta metrologijā, šī pieeja interpretē konstruktīvās un destruktīvās interference svītru telpiskos rakstus, lai ar augstu precizitāti mērītu virsmas topogrāfiju, optiskās aberācijas, refrakcijas indeksa sadalījumus un citas optiskās īpašības.
Lasīt pilno metodes aprakstu
Piesakieties ar bezmaksas kontu, lai lasītu šo sadaļu.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Avoti
- Malacara, D. (Ed.). (2007). Optical Shop Testing (3rd ed.). John Wiley & Sons. link ↗
- Huntley, J. M. (1989). Automatic fringe pattern analysis: a review. Optics & Lasers in Engineering, 11(2-3), 243-266. link ↗
- Wyant, J. C. (1996). White light interferometry. Proceedings of the International Society for Optical Engineering, 2873, 98-107. link ↗
Kā citēt šo lapu
ScholarGate. (2026, June 3). Interferogram Fringe Analysis. ScholarGate. https://scholargate.app/lv/optics/interferogram-fringe-analysis
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
Compare side by side →Uz to atsaucas
Pamanījāt kļūdu šajā lapā? Ziņojiet vai ierosiniet labojumu →