XRD Rītvelda precizēšana
XRD Rītvelda precizēšana ir metode detalizētas kristāla struktūras informācijas iegūšanai no pulvera difrakcijas datiem, salīdzinot novērotos un aprēķinātos difrakcijas attēlus, izmantojot mazāko kvadrātu precizēšanu. Šo tehniku, ko 1969. gadā izstrādāja Hugo Rītvelds, izmanto atomu pozīciju, aizpildījumu, termisko parametru un fāžu daļu noteikšanai tieši no pulvera datiem, neprasot monokristālus. Tā ir standarta pieeja materiālu raksturošanā strukturālai analīzei, fāžu identifikācijai un kvantifikācijai.
Lasīt pilno metodes aprakstu
Piesakieties ar bezmaksas kontu, lai lasītu šo sadaļu.
Metožu karte
Saistīto metožu apkaime — atlasiet mezglu, lai izpētītu.
Avoti
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. DOI: 10.1107/S0021889869006558 ↗
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. link ↗
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. DOI: 10.1016/0921-4526(93)90108-I ↗
Kā citēt šo lapu
ScholarGate. (2026, June 3). X-ray Diffraction Rietveld Refinement. ScholarGate. https://scholargate.app/lv/materials-science/xrd-rietveld-refinement
Kura metode?
Novietojiet šo metodi blakus tās tuvākajām radniecīgajām metodēm un lasiet tās līdzās — bibliotēka noliek grāmatas uz galda; izvēle ir jūsu.
- CALPHADMateriālzinātne↔ salīdzināt
- Selekcionētās zonas elektronu difrakcijaMateriālzinātne↔ salīdzināt
- Rentgena fotoelektronu spektroskopijaMateriālzinātne↔ salīdzināt
Uz to atsaucas
Pamanījāt kļūdu šajā lapā? Ziņojiet vai ierosiniet labojumu →