Scholar
Gate
Asistents
Visas jomas
▾
LV ▾
Par mums
Reference
Jautājums un plānojums
Izlase un mērīšana
Analīze
Cēloņsakarība un pierādījumi
Atspoguļošana un ētika
Sākums
/
Autors
Elhorst; Lee & Yu
Šim autoram piedēvētās metodes.
1 metode
Telpiskā analīze
1
Spatial Panel Model
2014