Scholar
Gate
Asistents
Visas jomas
▾
LV ▾
Par mums
Jautājums un plānojums
Izlase un mērīšana
Analīze
Cēloņsakarība un pierādījumi
Atspoguļošana un ētika
Sākums
/
Autors
David Lowe
Šim autoram piedēvētās metodes.
1 metode
Datorredze
1
SIFT Feature Detection
1999