劣化モデル

劣化モデルは、製品の寿命を推定するために、完全な故障を待つのではなく、時間経過に伴う亀裂の長さ、光出力、絶縁抵抗などの測定可能な性能特性を追跡します。Meeker、Escobar、Lu（1998）によって厳密な形式で導入されたこれらのモデルは、繰り返し測定に確率的劣化経路を適合させ、特性が事前に決定されたしきい値を超える最初の時間を故障と定義します。これにより、ごくわずかな、あるいは全く観測されない故障データから信頼性の高い寿命推論が可能になります。