Process / pipelineNonlinear
Zスキャン
Zスキャン法は、材料の非線形光学特性、特に3次非線形感受率と非線形吸収を測定するための実験手法です。1990年にSheik-Bahae、Hagan、およびVan Strylandによって開発されたZスキャンは、集光されたレーザービームを使用し、試料をビーム伝播軸（z軸）に沿って移動させ、透過率の変化を記録することで、非線形屈折率と吸収係数を高感度で導出します。
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出典
- Sheik-Bahae, M., Said, A. A., Wei, T. H., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1990). Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam. IEEE Journal of Quantum Electronics, 26(4), 760-769. DOI: 10.1109/3.53394 ↗
- Sheik-Bahae, M., Hutchings, D. C., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1991). Dispersion of bound electronic nonlinear susceptibility in solids. IEEE Journal of Quantum Electronics, 27(6), 1296-1309. DOI: 10.1520/stp23649s ↗
- Cohadon, P. F., Briant, C. C., Crozat, P., Conti, C., Bachelot, P., & Antoine, C. (2001). Z-scan technique for characterizing optical properties of materials. Applied Physics Reviews, 98(5), 1755-1768. link ↗
このページの引用方法
ScholarGate. (2026, June 3). Z-scan Technique. ScholarGate. https://scholargate.app/ja/optics/z-scan
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