干渉縞解析

干渉縞解析は、光学システムで記録された干渉縞パターンから定量的情報を抽出するための計算手法である。1801年のトーマス・ヤングの二重スリット実験に端を発し、20世紀の計測学で形式化されたこのアプローチは、明暗の縞の空間パターンを解釈することで、表面の形状、光学収差、屈折率分布、その他の光学特性を高精度に測定する。