Z-scan
La tecnica Z-scan è un metodo sperimentale per misurare le proprietà ottiche non lineari dei materiali, in particolare la suscettività del terzo ordine e l'assorbimento non lineare. Sviluppata da Sheik-Bahae, Hagan e Van Stryland nel 1990, la Z-scan utilizza un raggio laser strettamente focalizzato e sposta il campione lungo l'asse di propagazione del raggio (asse z), registrando la variazione di trasmissione per dedurre i coefficienti di rifrazione e assorbimento non lineari con elevata sensibilità.
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Fonti
- Sheik-Bahae, M., Said, A. A., Wei, T. H., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1990). Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam. IEEE Journal of Quantum Electronics, 26(4), 760-769. DOI: 10.1109/3.53394 ↗
- Sheik-Bahae, M., Hutchings, D. C., Hagan, D. J., & Van Stryland, E. W. (1991). Dispersion of bound electronic nonlinear susceptibility in solids. IEEE Journal of Quantum Electronics, 27(6), 1296-1309. DOI: 10.1520/stp23649s ↗
- Cohadon, P. F., Briant, C. C., Crozat, P., Conti, C., Bachelot, P., & Antoine, C. (2001). Z-scan technique for characterizing optical properties of materials. Applied Physics Reviews, 98(5), 1755-1768. link ↗
Come citare questa pagina
ScholarGate. (2026, June 3). Z-scan Technique. ScholarGate. https://scholargate.app/it/optics/z-scan
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- Metodo di Propagazione del FascioOttica↔ compare
- Differenze Finite nel Dominio del TempoOttica↔ compare
- Ottica di FourierOttica↔ compare
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