ScholarGate
Asisten
Hypothesis testPanel unit-root tests

Uji Akar Unit Panel Im-Pesaran-Shin (IPS)

Uji IPS (Im-Pesaran-Shin), yang diperkenalkan oleh Im, Pesaran, dan Shin pada tahun 2003, adalah uji akar unit panel yang dirancang untuk panel heterogen di mana koefisien autoregresif diizinkan berbeda di antara unit-unit penampang. Uji ini merata-ratakan statistik-t Augmented Dickey-Fuller (ADF) individual dan membangun statistik standar dengan distribusi limit normal standar, menjadikannya salah satu uji akar unit panel generasi pertama yang paling banyak diterapkan dalam ekonometrika terapan.

Terapkan dengan EconMindSegeraVideoSegeraDownload slides

Baca metode selengkapnya

Khusus anggota

Masuk dengan akun gratis untuk membaca bagian ini.

Masuk

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Sumber

  1. Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7

Cara menyitasi halaman ini

ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/id/econometrics/im-pesaran-shin-test

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Dirujuk oleh

ScholarGateIm-Pesaran-Shin Test (Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test). Diakses 2026-06-15 dari https://scholargate.app/id/econometrics/im-pesaran-shin-test · Set data: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026