Tes CIPS — Tes Akar Unit Panel yang Diperluas Secara Lintas Bagian (Cross-sectionally Augmented IPS Panel Unit-Root Test)
Tes CIPS, yang diperkenalkan oleh Pesaran (2007), adalah tes akar unit panel generasi kedua yang dirancang untuk panel di mana unit lintas bagian berbagi faktor umum yang tidak teramati yang menimbulkan ketergantungan lintas bagian. Dengan memperluas setiap regresi ADF individu dengan rata-rata lintas bagian dan kelambanannya, tes CIPS memperhitungkan ketergantungan ini dan menghasilkan inferensi yang andal di mana tes generasi pertama seperti tes IPS asli gagal. Tes ini banyak diterapkan pada panel makroekonomi dan keuangan di mana guncangan menyebar ke seluruh negara atau wilayah.
Baca metode selengkapnya
Masuk dengan akun gratis untuk membaca bagian ini.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Sumber
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
Cara menyitasi halaman ini
ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/id/econometrics/cips-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Uji Dickey-Fuller yang Diperluas Lintas-Bagian (CADF)Ekonometrika↔ compare
- Uji Akar Unit Panel Im-Pesaran-Shin (IPS)Ekonometrika↔ compare
- PANIC Test: Analisis Akar Unit Panel dengan Dekomposisi Faktor UmumEkonometrika↔ compare
Dirujuk oleh
Menemukan masalah di halaman ini? Laporkan atau usulkan perbaikan →