Scholar
Gate
Asszisztens
Minden terület
▾
HU ▾
Rólunk
Kérdés és kutatási terv
Mintavétel és mérés
Elemzés
Oksági viszony és bizonyíték
Közlés és etika
Kezdőlap
/
Szerző
David Lowe
E szerzőhöz kötött módszerek.
1 módszer
Számítógépes látás
1
SIFT Feature Detection
1999