SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) is a non-parametric method for detecting differential item functioning (DIF) and differential test functioning (DTF) developed by Shealy and Stout (1993). Unlike parametric approaches, SIBTEST does not assume a particular item response model and directly tests whether groups differ in their probability of correct responses at equal levels of overall ability.
स्रोत रिकॉर्ड
विधियों के स्रोत रिकॉर्ड से उद्धरण शब्दशः कॉपी किए गए हैं। इनसे किसी भी दावे-स्तरीय सत्यापन का अनुमान नहीं लगाया गया है।
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. · DOI 10.1007/BF02294572
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. · DOI 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. · DOI 10.1007/BF02294821
क्यूरेटेड दावे
साक्ष्य लेज़र में दावे बने हुए हैं, प्रत्येक का अपना मूल्यांकन है।
जब लेज़र में कोई दावा नहीं होता है तो यह दृश्य दावा मूल्यांकन का आविष्कार नहीं करता है।
संबंधित विधियाँ
विधि ग्राफ़ से उत्पन्न और मशीन-अनुशंसित संबंध के रूप में दिखाए गए हैं — किसी भी साक्ष्य दावे का अनुमान नहीं लगाया गया है।