इम-पेसारन-शिन (IPS) पैनल यूनिट-रूट परीक्षण
इम, पेसारन और शिन द्वारा 2003 में प्रस्तुत इम-पेसारन-शिन (IPS) परीक्षण, एक पैनल यूनिट-रूट परीक्षण है जिसे विषम पैनलों के लिए डिज़ाइन किया गया है जहाँ ऑटोरेग्रेसिव गुणांक को क्रॉस-सेक्शनल इकाइयों में भिन्न होने की अनुमति है। यह व्यक्तिगत संवर्धित डिकी-फुलर (ADF) t-सांख्यिकी का औसत निकालता है और एक मानक सामान्य सीमित वितरण के साथ एक मानकीकृत सांख्यिकी का निर्माण करता है, जिससे यह अनुप्रयुक्त अर्थमिति में सबसे व्यापक रूप से लागू पहली पीढ़ी के पैनल यूनिट-रूट परीक्षणों में से एक बन जाता है।
पूरी विधि पढ़ें
यह खंड पढ़ने के लिए निःशुल्क खाते से साइन इन करें।
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
स्रोत
- Im, K. S., Pesaran, M. H., & Shin, Y. (2003). Testing for unit roots in heterogeneous panels. Journal of Econometrics, 115(1), 53–74. DOI: 10.1016/S0304-4076(03)00092-7 ↗
इस पृष्ठ का उद्धरण कैसे दें
ScholarGate. (2026, June 2). Im-Pesaran-Shin (IPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/hi/econometrics/im-pesaran-shin-test
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- ब्रेइटुंग पैनल यूनिट-रूट टेस्टअर्थमिति↔ compare
- CIPS परीक्षणअर्थमिति↔ compare
- लेविन-लिन-चू (LLC) पैनल यूनिट-रूट परीक्षणअर्थमिति↔ compare