CIPS परीक्षण — क्रॉस-सेक्शनली ऑगमेंटेड आईपीएस पैनल यूनिट-रूट टेस्ट
CIPS परीक्षण, जिसे Pesaran (2007) द्वारा प्रस्तुत किया गया है, एक दूसरी पीढ़ी का पैनल यूनिट-रूट परीक्षण है जो ऐसे पैनलों के लिए डिज़ाइन किया गया है जिनमें क्रॉस-सेक्शनल इकाइयाँ अनदेखे सामान्य कारकों को साझा करती हैं जो क्रॉस-सेक्शन निर्भरता उत्पन्न करते हैं। प्रत्येक व्यक्तिगत ADF रिग्रेशन को क्रॉस-सेक्शनल औसत और उनके लैग्स के साथ ऑगमेंट करके, CIPS परीक्षण इस निर्भरता का हिसाब रखता है और पहली पीढ़ी के परीक्षणों, जैसे कि मूल IPS परीक्षण, के विफल होने पर विश्वसनीय अनुमान प्रदान करता है। यह मैक्रोइकॉनॉमिक और फाइनेंस पैनलों में व्यापक रूप से लागू होता है जहाँ झटके देशों या क्षेत्रों में फैलते हैं।
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स्रोत
- Pesaran, M. H. (2007). A simple panel unit root test in the presence of cross-section dependence. Journal of Applied Econometrics, 22(2), 265–312. DOI: 10.1002/jae.951 ↗
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ScholarGate. (2026, June 2). Cross-sectionally Augmented IPS (CIPS) Panel Unit-Root Test. ScholarGate. https://scholargate.app/hi/econometrics/cips-test
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