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परिचय
Reference
प्रश्न एवं अभिकल्पना
प्रतिचयन एवं मापन
विश्लेषण
कार्य-कारण एवं प्रमाण
प्रतिवेदन एवं नैतिकता
मुखपृष्ठ
/
लेखक
Albert Satorra & Peter M. Bentler; Ke-Hai Yuan
इस लेखक से संबद्ध विधियाँ।
1 विधि
अनुसंधान अभिकल्प
1
Robust Model Testing Research
1988