יצירת תבניות בדיקה אוטומטית
יצירת תבניות בדיקה אוטומטית (ATPG) היא יצירה אוטומטית של וקטורי בדיקה המאתרים פגמי ייצור במעגלים דיגיטליים. שיטה זו, שפותחה לראשונה על ידי רות' בשנת 1966, מוצאת באופן שיטתי קלטים ההופכים תקלות מסוג "תקוע" (stuck-at faults) לניתנות לצפייה במוצאים, ובכך מאפשרת איתור תקלות מקיף. ATPG קריטית לייצור מוליכים למחצה: הבטחת כיסוי בדיקה גבוה מבטיחה שרק שבבים תקינים יישלחו ומזהה בעיות בתהליך הייצור.
קראו את השיטה במלואה
התחברו עם חשבון חינמי כדי לקרוא חלק זה.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
מקורות
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
איך לצטט עמוד זה
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/he/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- סינתזת לוגיקההנדסת חשמל↔ compare
- תהליך מונטה קרלו וריאציההנדסת חשמל↔ compare
- ניתוח תזמון סטטיהנדסת חשמל↔ compare