Scholar
Gate
עוזר
כל התחומים
▾
HE ▾
אודות
Reference
שאלה ותכנון
דגימה ומדידה
ניתוח
סיבתיות וראיות
דיווח ואתיקה
בית
/
מחבר
Kapetanios, Shin, and Snell
שיטות המיוחסות למחבר זה.
שיטה 1
אקונומטריקה
1
Nonlinear ADF Unit Root Test
2003