Siirry sisältöönScholarGate
KirjastoKirjastoniTyöpöytäReview StudioAvustaja
Kirjaudu sisään
X-ray Photoelectron Spectroscopy/Todisteet
Metodin todisteiden tietue

X-ray Photoelectron Spectroscopy

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), is a surface-sensitive analytical technique that measures the kinetic energies of photoelectrons ejected from a material by high-energy X-rays. Developed by Kai Siegbahn in 1967, XPS determines elemental composition, chemical oxidation states, and chemical bonding within ~10 nanometers of a surface. It is indispensable in materials science for surface characterization, corrosion studies, oxide analysis, and interface chemistry.

Sources recorded, not reviewed

Lähdetietue

Sitaatit kopioitu sanatarkasti metodin lähdetietueesta. Niistä ei päätellä väitteiden tasoista varmennusta.

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
Taksonominen metoditietue · process-pipeline / materials-science
  • Siegbahn, K., Nordling, C., Fahlman, A., et al. (1967). ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy. Almqvist and Wiksells. · URL
  • Briggs, D., & Seah, M. P. (2003). Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (2nd ed.). John Wiley & Sons. · URL
  • Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., & Bomben, K. D. (1992). Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy. Physical Electronics. · URL
Avaa koko metodi

Kuratoituja väitteitä

Väitteet tallennettu todistusaineiston pääkirjaan, jokaisella oma arviointinsa.

Ei vielä kuratoituja väitteitä

Tämä näkymä ei keksi väitteen arviointia, jos pääkirjassa ei ole sitä.

Liittyvät metodit

Luotu metodigraafista ja näytetään koneen ehdottamina suhteina – väitteitä ei päätellä.

Same method familyEnergy-Dispersive X-ray Spectroscopymachine-suggested · Relational suggestion, not evidence.Same method familyRaman Deconvolutionmachine-suggested · Relational suggestion, not evidence.Same method familySelected Area Electron Diffractionmachine-suggested · Relational suggestion, not evidence.

Todisteiden tila

Sources recorded, not reviewed

Bibliographic sources are present. Claim-level evidence review has not been performed.

Lähteet

3 tallennettua sitaattia, kopioitu metodin lähdetietueesta.

Toiminnot

Avaa metodisivu
ScholarGate

Sisältö edellä rakennettu tutkimusmenetelmien hakuteoskirjasto — mikä kukin menetelmä on, miten se toimii ja mistä se on peräisin.

Avoin data (CC-BY)

Tutustu

  • Kirjasto
  • Hae menetelmiä…
  • Selaa tieteenaloittain
  • Tieteenalat
  • Polku
  • Vertaile
  • Mikä menetelmä?

Viitteet

  • Aiheet
  • Kartasto
  • Sanasto
  • Metodologia
  • Filosofia

Työtila

  • Kirjastoni
  • Työpöytä
  • Keskustelu

Yritys

  • Tietoa
  • Hinnat
  • Yhteydenotto
  • Ehdota menetelmää

Tietueet on koottu julkaistuista lähteistä viitteeksi. Vastuu tietojen oikeellisuuden ja soveltuvuuden varmistamisesta omaan käyttöösi on sinulla.

© 2026 ScholarGate · Tutkimusmenetelmien hakuteoskirjasto
  • Tietosuoja
  • Evästeet
  • Käyttöehdot
  • Poista tili