Metodin todisteiden tietue
SIBTEST
SIBTEST (Simultaneous Item Bias Test) is a non-parametric method for detecting differential item functioning (DIF) and differential test functioning (DTF) developed by Shealy and Stout (1993). Unlike parametric approaches, SIBTEST does not assume a particular item response model and directly tests whether groups differ in their probability of correct responses at equal levels of overall ability.
Lähdetietue
Sitaatit kopioitu sanatarkasti metodin lähdetietueesta. Niistä ei päätellä väitteiden tasoista varmennusta.
SIBTEST: Simultaneous Item Bias Test
Taksonominen metoditietue · latent-structure / psychometrics
- Shealy, R., & Stout, W. F. (1993). A model-based standardization approach that separates true bias/DIF from group differences and detects test bias/DTF. Psychometrika, 58(2), 159-194. · DOI 10.1007/BF02294572
- Chang, H. H., Mazzeo, J., & Roussos, L. (1996). Detecting DIF for polytomously scored items: An adaptation of the SIBTEST procedure. Journal of Educational Measurement, 33(3), 333-353. · DOI 10.1111/j.1745-3984.1996.tb00496.x
- Stout, W. F. (1987). A nonparametric approach for assessing latent trait unidimensionality. Psychometrika, 52(4), 589-617. · DOI 10.1007/BF02294821
Kuratoituja väitteitä
Väitteet tallennettu todistusaineiston pääkirjaan, jokaisella oma arviointinsa.
Ei vielä kuratoituja väitteitä
Tämä näkymä ei keksi väitteen arviointia, jos pääkirjassa ei ole sitä.
Liittyvät metodit
Luotu metodigraafista ja näytetään koneen ehdottamina suhteina – väitteitä ei päätellä.