XRD Rietveld Refinement
XRD Rietveld Refinement is a method for extracting detailed crystal structure information from powder diffraction data by comparing observed and calculated diffraction patterns through least-squares refinement. Developed by Hugo Rietveld in 1969, this technique enables determination of atomic positions, occupancies, thermal parameters, and phase fractions directly from powder data without requiring single crystals. It is the standard approach in materials characterization for structural analysis, phase identification, and quantification.
سوابق منبع
استنادات عیناً از سوابق منبع روش کپی شدهاند. هیچ تأیید در سطح ادعا از آنها استنباط نمیشود.
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. · DOI 10.1107/S0021889869006558
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. · URL
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. · DOI 10.1016/0921-4526(93)90108-I
ادعاهای گزینششده
ادعاها در دفتر ثبت شواهد ذخیره شدهاند، هر کدام با ارزیابی خاص خود.
این نما در صورت عدم وجود ارزیابی ادعا در دفتر ثبت، ادعایی ابداع نمیکند.
روشهای مرتبط
از گراف روش تولید شده و به عنوان روابط پیشنهادی ماشین نمایش داده میشود — هیچ ادعای مدرکی استنباط نمیشود.