ScholarGate
Assistent
Process / pipelineStatistical process control

Atribuutide kontrollkaardid (p, np, c, u)

Atribuutide kontrollkaardid laiendavad Shewharti raamistikku loendamis- ja proportsiooniandmete jaoks – kvaliteedinäitajate jaoks, mida klassifitseeritakse, mitte mõõdetakse. p- ja np-kaardid jälgivad defektsete üksuste proportsiooni või arvu, kasutades binoomjaotust, samas kui c- ja u-kaardid jälgivad defektide arvu ühiku kohta, kasutades Poissoni jaotust. Need on standardtööriistad statistilises protsessijuhtimises, kui kontrollimine annab tulemuseks läbiv/mitte-läbiv või defektide loenduse, mitte pidevaid mõõtmisi.

Rakenda tööriistaga StatMindPeagiVideoPeagiDownload slides

Loe meetodi täielikku kirjeldust

Ainult liikmetele

Selle osa lugemiseks logi sisse tasuta kontoga.

Logi sisse

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Allikad

  1. Shewhart, W. A. (1931). Economic Control of Quality of Manufactured Product. D. Van Nostrand Company. ISBN: 978-0-87389-076-2
  2. Montgomery, D. C. (2009). Introduction to Statistical Quality Control (6th ed.). John Wiley & Sons. ISBN: 978-0-470-16992-6

Kuidas sellele lehele viidata

ScholarGate. (2026, June 2). Attributes Control Charts (p, np, c, u). ScholarGate. https://scholargate.app/et/statistics/attributes-control-chart

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Sellele viitavad

ScholarGateAttributes Control Chart (Attributes Control Charts (p, np, c, u)). Loetud 2026-06-15 aadressilt https://scholargate.app/et/statistics/attributes-control-chart · Andmestik: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026