CIPS Test
The CIPS test, introduced by Pesaran (2007), is a second-generation panel unit-root test designed for panels in which the cross-sectional units share unobserved common factors that induce cross-section dependence. By augmenting each individual ADF regression with cross-sectional averages and their lags, the CIPS test accounts for this dependence and produces reliable inference where first-generation tests such as the original IPS test break down. It is widely applied in macroeconomic and finance panels where shocks propagate across countries or regions.
Allikakirje
Tsiteeringud kopeeritud meetodi allikakirjest sõna-sõnalt. Nendest ei saa järeldada väidete tasemel kinnitust.
Kureeritud väited
Väited on salvestatud tõendite registrisse, igal oma hinnanguga.
See vaade ei loo väite hinnangut, kui registris seda pole.
Seotud meetodid
Genereeritud meetodigraafist ja kuvatud masina soovitatud seostena – väiteid ei järeldata.