XRD Rietveld Refinement
XRD Rietveld Refinement is a method for extracting detailed crystal structure information from powder diffraction data by comparing observed and calculated diffraction patterns through least-squares refinement. Developed by Hugo Rietveld in 1969, this technique enables determination of atomic positions, occupancies, thermal parameters, and phase fractions directly from powder data without requiring single crystals. It is the standard approach in materials characterization for structural analysis, phase identification, and quantification.
Registro de origen
Citas copiadas textualmente del registro de origen del método. No se infiere ninguna verificación a nivel de afirmación de ellas.
- Rietveld, H. M. (1969). A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. Journal of Applied Crystallography, 2(2), 65-71. · DOI 10.1107/S0021889869006558
- Young, R. A. (Ed.). (1993). The Rietveld Method. Oxford University Press/International Union of Crystallography. · URL
- Rodriguez-Carvajal, J. (2004). Recent advances in magnetic structure determination by neutron powder diffraction. Physica B, 192(1-2), 55-69. · DOI 10.1016/0921-4526(93)90108-I
Afirmaciones curadas
Afirmaciones persistidas en el libro mayor de evidencia, cada una con su propia evaluación.
Esta vista no inventa una evaluación de afirmación si el libro mayor no tiene ninguna.
Métodos relacionados
Generado a partir del grafo de métodos y mostrado como relaciones sugeridas por la máquina; no se infiere ninguna afirmación de evidencia.