ScholarGate
Βοηθός
Process / pipelineStatistical circuit analysis

Διακύμανση Διαδικασίας Monte Carlo

Η ανάλυση Διακύμανσης Διαδικασίας Monte Carlo ποσοτικοποιεί τον αντίκτυπο των αβεβαιοτήτων κατασκευής στην απόδοση του κυκλώματος χρησιμοποιώντας στατιστική δειγματοληψία. Καθώς η τεχνολογία ημιαγωγών κλιμακώνεται, οι διακυμάνσεις της διαδικασίας (μήκος πύλης, πάχος οξειδίου, διακυμάνσεις προσμίξεων) δημιουργούν σημαντικές αβεβαιότητες στην καθυστέρηση, την ισχύ και τη διαρροή. Οι μέθοδοι Monte Carlo δειγματοληπτούν τον χώρο τυχαίων διακυμάνσεων, επιτρέποντας τη στατιστική χαρακτηριστικοποίηση της απόδοσης, των περιθωρίων χρονισμού και της αξιοπιστίας. Απαραίτητο για τους σύγχρονους τεχνολογικούς κόμβους.

Άνοιγμα στο MethodMindΣύντομαΒίντεοΣύντομαDownload slides

Διαβάστε ολόκληρη τη μέθοδο

Μόνο για μέλη

Συνδεθείτε με δωρεάν λογαριασμό για να διαβάσετε αυτή την ενότητα.

Σύνδεση

Method map

The neighbourhood of related methods — select a node to explore.

Πηγές

  1. Fishman, G. S. (1996). Monte Carlo: Concepts, Algorithms, and Applications. Springer-Verlag. DOI: 10.1007/978-1-4757-2553-7
  2. Nassif, S. R. (2003). Modeling and analysis of manufacturing variations. In Proc. CICC (pp. 223-228). IEEE. DOI: 10.1109/cicc.2001.929760
  3. Agarwal, A., Blaauw, D., Zolotov, V., & Sundareswaran, S. (2005). Statistical timing analysis with dual-Vth devices. IEEE Transactions on VLSI Systems, 13(3), 319-328. link

Πώς να παραπέμψετε σε αυτή τη σελίδα

ScholarGate. (2026, June 3). Monte Carlo Analysis of Semiconductor Process Variations. ScholarGate. https://scholargate.app/el/electrical-engineering/monte-carlo-process-variation

Which method?

Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.

Compare side by side

Αναφέρεται από

ScholarGateMonte Carlo Process Variation (Monte Carlo Analysis of Semiconductor Process Variations). Ανακτήθηκε στις 2026-06-15 από https://scholargate.app/el/electrical-engineering/monte-carlo-process-variation · Σύνολο δεδομένων: https://doi.org/10.5281/zenodo.20539026