Αυτόματη Δημιουργία Προτύπων Δοκιμών
Η Αυτόματη Δημιουργία Προτύπων Δοκιμών (ATPG) είναι η αυτοματοποιημένη δημιουργία διανυσμάτων δοκιμών που ανιχνεύουν ελαττώματα κατασκευής σε ψηφιακά κυκλώματα. Πρωτοπορώντας από τον Roth το 1966, η ATPG βρίσκει συστηματικά εισόδους που καθιστούν τα σφάλματα «κολλημένα» (stuck-at faults) παρατηρήσιμα στις εξόδους, επιτρέποντας την ολοκληρωμένη ανίχνευση σφαλμάτων. Η ATPG είναι κρίσιμη για την κατασκευή ημιαγωγών: η επίτευξη υψηλής κάλυψης δοκιμών διασφαλίζει ότι αποστέλλονται μόνο καλά τσιπ και εντοπίζει προβλήματα στη διαδικασία κατασκευής.
Διαβάστε ολόκληρη τη μέθοδο
Συνδεθείτε με δωρεάν λογαριασμό για να διαβάσετε αυτή την ενότητα.
Method map
The neighbourhood of related methods — select a node to explore.
Πηγές
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
Πώς να παραπέμψετε σε αυτή τη σελίδα
ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/el/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
Which method?
Set this method beside its closest kin and read them side by side — the library lays the books on the table; the choice is yours.
- Λογική ΣύνθεσηΗλεκτρολογική Μηχανική↔ compare
- Διακύμανση Διαδικασίας Monte CarloΗλεκτρολογική Μηχανική↔ compare
- Στατική Ανάλυση ΧρονισμούΗλεκτρολογική Μηχανική↔ compare
Αναφέρεται από
Εντοπίσατε πρόβλημα σε αυτή τη σελίδα; Αναφέρετέ το ή προτείνετε διόρθωση →