Automatische Testmustergenerierung
Automatische Testmustergenerierung (ATPG) ist die automatisierte Erstellung von Testvektoren, die Herstellungsfehler in digitalen Schaltungen erkennen. ATPG, das 1966 von Roth eingeführt wurde, findet systematisch Eingänge, die Stuck-at-Fehler an Ausgängen beobachtbar machen, und ermöglicht so eine umfassende Fehlererkennung. ATPG ist entscheidend für die Halbleiterfertigung: Eine hohe Testabdeckung stellt sicher, dass nur fehlerfreie Chips ausgeliefert werden, und identifiziert Probleme im Herstellungsprozess.
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Quellen
- Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. (1990). Digital Systems Testing and Testable Design. Computer Science Press. link ↗
- Roth, J. P. (1966). Diagnosis of automata failures: A calculus and a method. IBM Journal of Research and Development, 10(4), 278-291. DOI: 10.1147/rd.104.0278 ↗
- Goel, P. (1981). An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational circuits. IEEE Transactions on Computers, 30(3), 215-222. link ↗
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ScholarGate. (2026, June 3). Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits. ScholarGate. https://scholargate.app/de/electrical-engineering/automatic-test-pattern-generation
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